仪器共享 友情链接 学校主页 研究生网 图书馆 校友会 北科大基金会 首页 > 科技创新 > 仪器共享 > 表面形貌分析 表面形貌分析 首页 > 科技创新 > 仪器共享 > 表面形貌分析 台阶仪 作者: 发布时间:2025-04-27 设备名称:台阶仪 型号:Dektak XT/马来西亚 Bruker 主要功能:台阶仪主要用于薄膜材料厚度(2D)测量。可获得精确定量的台阶高度、线粗糙度,薄膜曲率半径,应力测试等薄膜几何参数。 主要技术参数: 1.最大扫描长度≥55mm; 2.最大样品高度≥40mm; 3.垂直方向扫描范围≥1000微米; 4.测试高度方向的重复性≤0.4nm; 5.测试垂直分辨率≤0.1nm。 相关链接