设备名称：X射线多晶衍射仪

型号：D2 PHASER/ 德国Bruker

主要功能：布鲁克 D2 PHASER 可以快速、简便、高质量地完成多晶样品 B-B 衍射几何下的所有工作。适合测试各种各样粉末、薄膜等样品的测定。配备由多个子探测器组成的林克斯阵列探测器，相比于传统闪烁计数器可以提高强度 150 倍以上，除了强度方面的卓越性能，还有非常好的去荧光能力，即使是测量强荧光样品也能展示非常好的信噪比。

可应用于物相定性分析、无标样定量分析、结构精修、结晶度分析、低角度介孔材料测量、非晶相含量分析、经典定量分析、晶粒尺寸计算、微观应变分析

主要技术参数：

1.Theta/theta立式测角仪

2.测量精度：全谱范围内<±0.02°； 2θ 角度范围：-3～160°

3.最小步长：0.0001°； 半峰宽 FWHM：<0.05°

4.X 射线发生器：30kV/10mA

5.X 光管：Cu 靶