X射线多晶衍射仪
设备名称:X射线多晶衍射仪
型号:D2 PHASER/ 德国Bruker
主要功能:布鲁克 D2 PHASER 可以快速、简便、高质量地完成多晶样品 B-B 衍射几何下的所有工作。适合测试各种各样粉末、薄膜等样品的测定。配备由多个子探测器组成的林克斯阵列探测器,相比于传统闪烁计数器可以提高强度 150 倍以上,除了强度方面的卓越性能,还有非常好的去荧光能力,即使是测量强荧光样品也能展示非常好的信噪比。
可应用于物相定性分析、无标样定量分析、结构精修、结晶度分析、低角度介孔材料测量、非晶相含量分析、经典定量分析、晶粒尺寸计算、微观应变分析
主要技术参数:
1.Theta/theta立式测角仪
2.测量精度:全谱范围内<±0.02°; 2θ 角度范围:-3~160°
3.最小步长:0.0001°; 半峰宽 FWHM:<0.05°
4.X 射线发生器:30kV/10mA
5.X 光管:Cu 靶